Introduction :
Les techniques d'autotest intégré (BIST) sont cruciales pour améliorer la testabilité des circuits numériques, en particulier dans les systèmes complexes où les tests avec des équipements externes sont impraticables ou coûteux. Le Chemin d'autotest circulaire (CSTP) est une technique BIST puissante qui combine la génération de motifs de test et la compression de résultats en une seule structure compacte.
Fonctionnement du CSTP :
Le cœur du CSTP réside dans la disposition intelligente des bascules à l'intérieur du circuit pendant le test. Les bascules sont interconnectées pour former un registre circulaire, où chaque sortie de bascule est XORée avec un signal de circuit spécifique et ensuite introduite dans l'entrée de la bascule suivante. Cette structure circulaire permet les fonctionnalités suivantes :
Avantages du CSTP :
Implémentation :
Applications :
Le CSTP trouve des applications dans une large gamme de circuits numériques, notamment :
Conclusion :
Le Chemin d'autotest circulaire est une technique BIST précieuse qui offre une solution efficace et compacte pour tester les circuits numériques. En combinant la génération de motifs de test et la compression de résultats en une seule structure, le CSTP permet une détection de pannes économique et complète, contribuant à la fiabilité et à la robustesse des systèmes électroniques modernes.
Instructions: Choose the best answer for each question.
1. What is the primary function of the circular register in CSTP?
a) Storing the test patterns for the circuit under test b) Generating pseudorandom test patterns c) Compacting test results into a signature d) Both b) and c)
d) Both b) and c)
2. Which of the following is NOT an advantage of CSTP?
a) Compactness b) High fault coverage c) Requires separate test pattern generators d) Efficiency
c) Requires separate test pattern generators
3. How are test results compacted in CSTP?
a) By storing all output values in a separate memory unit b) By XORing the outputs with specific circuit signals and feeding them back into the circular register c) By comparing the outputs with pre-computed fault-free values d) By using a dedicated result compaction unit
b) By XORing the outputs with specific circuit signals and feeding them back into the circular register
4. What type of testing does CSTP typically perform?
a) Functional testing b) Boundary scan testing c) Pseudorandom testing d) Deterministic testing
c) Pseudorandom testing
5. Which of the following is NOT a potential application of CSTP?
a) Memory testing b) Logic circuit testing c) Analog circuit testing d) Microprocessor testing
c) Analog circuit testing
Design a simple CSTP structure for a 4-bit adder circuit.
Instructions:
A possible solution for this exercise would include: 1. A 4-bit adder circuit built using full adders. 2. A circular register composed of 4 D flip-flops. 3. Each flip-flop output would be XORed with the corresponding sum bit (S0, S1, S2, S3) before feeding into the next flip-flop. 4. The output of the last flip-flop could be XORed with the carry-out signal (Cout) to further enhance fault coverage. This structure generates pseudorandom test patterns by shifting the initial state of the register, effectively providing different combinations of input values to the adder. The XOR operations effectively compact the results by combining the output bits and carry-out into a signature. The final state of the register represents the signature, which can be compared to a pre-computed fault-free signature to diagnose any fault in the adder circuit.
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